ED2000(X射线荧光光谱仪) 
ED2000采用全数字化电子线路设计，其紧密耦合的X射线光学系统和Pentafet探测器专利技术实现了最高的计数率、最佳的分辨率和最低的检出下限。如分析土壤中的有害重金属元素Cd时，检出下限可达0.5ppm。
Pentafet专利技术克服了能量色散技术中，元素分辨能力随计数率增高而下降的缺点，即使在较高计数情况下，仍可以得到优良的元素分辨率。ED2000数字化电路技术提高了信号处理速度，缩短了分析时间。ED2000的最大计数率高于50,000cps；在17,000cps计数率的情况下，分辨率优于140eV。